雜散光是
分光光度計的一項重要指標(biāo)，它是指與測試波長不同的其他波長的光。雜散光的存在對測量結(jié)果的影響很大，分析計算表明:由于雜散光的存在而引起的透射比測量誤差近似等于雜散光本身，由此可見雜散光是分光光度計的重要誤差來源之一。
分光光度計產(chǎn)生雜散光的因很多，其較主要的原因大致有以下9個方面：
1、灰塵沾污光學(xué)元件，如光柵、棱鏡、透鏡、反射鏡、濾光片等；
2、光學(xué)元件被損傷，或光學(xué)元件產(chǎn)生的其他缺陷，如光柵、透鏡和反射鏡、棱鏡材料中的氣泡等；
3、準(zhǔn)直系約部或有關(guān)隔板邊緣的反射；
4、光學(xué)系統(tǒng)或檢測器沒有作適當(dāng)?shù)钠帘危?/div>
5、熱輻射或熒光引起的二次電子發(fā)射；
6、狹縫的缺陷；
7、光束孔徑不匹配；
8、光學(xué)系統(tǒng)的像差；
9、單色器內(nèi)壁黑化處理不當(dāng)。
分光光度計只測試220nm處的雜散光，
不測試340nm處的雜散光，
這樣是不正確的，
需測試220nm處雜散光是因為：
①據(jù)儀器學(xué)理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小，容易顯現(xiàn)雜散光；
②根根據(jù)量子光學(xué)理論，波長是能量的倒數(shù)，波長短能量大，容易產(chǎn)生雜散光，而220nm處屬于短波部分；
③根據(jù)儀器學(xué)理論中的光電發(fā)射理論，光電倍增管在220nm處的光譜響應(yīng)(靈敏度)低，容易顯現(xiàn)雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的，因為340nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調(diào)換濾光片的地方，此時容易產(chǎn)生雜散光。所以，對于分光光度計來講，應(yīng)該測試220nm和340nm兩處的雜散光。
雜散光的測試方法：
1、首先將參比液注入配對石英石吸收池，分別放置在參比池座和試樣池座內(nèi)。再測定波段掃描基線并使之平滑。
2、將減光片插入試樣光路的濾光片槽內(nèi)，其讀數(shù)即為減光片的衰減值K，然后將減光片插入?yún)⒈裙饴返臑V光片座內(nèi)，
3、將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液，插入試樣試樣池座中，在相應(yīng)的波段內(nèi)掃描、打印；在記錄紙的作標(biāo)上量取測定波長處的透光度，乘以衰減值K，即得各測定波長處的雜散光值。
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